美国MODERN MICROSCOPY SCANNING 2003展览会

1．展会地点： 　 美国 加利福尼亚 圣地亚哥 2．展会时间： 　 2003年3月3日至2003年3月5日 3．参展截止日期 　 2002年12月2日　 4．会议内容 · 学术会议  · 社会事件  · 颁奖典礼 · 短期课程：     扫描电子显微镜论坛    扫描电子显微镜的介绍     在SEM中的X射线微量分析     生物材料的低电压，低温度的SEM和X射线微量分析     使用3-D显微镜方法的新仪器     显微镜外观图像艺术    该会议为所有对扫描电子、扫描探头和扫描光学显微镜感兴趣的专业人士提供了一个各学科间快速交流信息的国际性媒介。    如有意参展，请与我们联系。联系电话：021-54241477 韩先生

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