梅特勒-托利多 微量天平 XS3DU

梅特勒-托利多 微量天平 XS3DU产品介绍

梅特勒-托利多XS3DU微量天平具有卓越的称量性能，完全满足基础称量应用：在800 mg的精细量程范围内提供1 μg的可读性。具有同类产品中最佳的重复性可低至0.8 μg，是获得理想的称量可靠性的关键，避免不必要的重复测试，显著地降低了样品和时间的浪费。

梅特勒-托利多XS3DU微量天平专为提高称量效率和可靠性而设计。

梅特勒-托利多 微量天平 XS3DU 技术指标

可读性	0.01 mg/0.001 mg
最大称量值	3.1 g/ 0.8g
重复性 - 加载处	0.006 mg/ 0.001 mg
- 低加载（加载处）	0.005 mg (0.2 g)/ 0.0008 mg (0.2 g)
线性误差	0.004 mg
典型值 4)
典型重复性（sd）	0.0005 mg +1.2 x (10–7)•R_gr
典型微分非线性（sd）	√2x(10-12)g·R_nt
典型灵敏度偏移（sd）2)	3x(10-6)· R_nt
典型最小称量值* (@ U=1 %, 2 sd)	0.1 mg+2.4 x (10–6)•R_gr
典型稳定时间	< 6 sec
稳定时间	< 10 sec

1. 根据OIML R76
2. 在10到30°C的温度范围内
3. 第一次安装，使用proFACT校准，灵敏度稳定性
4. 能用于估计不确定度 sd=标准偏差 Rgr=毛重 Rnt=净重（样品质量） a=年
5. 重复性和最小称量值可以通过以下措施得以改进：- 选择适当的称量参数设置，- 选择合适的天平放置位置，- 使用较小的去皮容器。

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